A.條狀?yuàn)A渣
B.氣孔或圓形夾渣
C.裂紋
D.以上A和C
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A.近場(chǎng)效應(yīng)
B.受分辨力影響
C.盲區(qū)
D.受反射波影響
A.提高探測(cè)頻率
B.用多種角度探頭探測(cè)
C.修磨探傷面
D.以上都可以
A.4,6,8,10
B.3,5,7,9
C.6,10
D.以上都可以
A.缺陷定位
B.缺陷定量
C.判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波
D.以上A和C
A.將測(cè)長(zhǎng)線下移4dB
B.將判廢線下移4dB
C.三條線同時(shí)上移4dB
D.三條線同時(shí)下移4dB
最新試題
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭,缺陷回波高度降低一半時(shí),探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。