A.六方結(jié)構(gòu);
B.立方結(jié)構(gòu);
C.四方結(jié)構(gòu);
D.A或B。
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你可能感興趣的試題
A.估計(jì)樣品的厚度;
B.確定180º不唯一性;
C.鑒別有序固溶體;
D.精確測(cè)定晶體取向。
A.高階勞厄斑;
B.超結(jié)構(gòu)斑點(diǎn);
C.二次衍射斑;
D.孿晶斑點(diǎn)
A.球面外;
B.球面上;
C.球面內(nèi);
D.B+C。
A.尺寸很小的倒易點(diǎn);
B.尺寸很大的球;
C.有一定長(zhǎng)度的倒易桿;
D.倒易圓盤(pán)。
A.規(guī)則的平行四邊形斑點(diǎn);
B.同心圓環(huán);
C.暈環(huán);
D.不規(guī)則斑點(diǎn)。
最新試題
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
變形振動(dòng)分為()。
在紅外光譜分析中,基本振動(dòng)區(qū)是指()。
被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱(chēng)為非彈性背散射電子,能量基本上沒(méi)有損失。
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí),可以產(chǎn)生衍射的晶面為()。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)()的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
孔徑半角越小,衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。