A、晶粒大小對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
B、參加衍射晶粒數(shù)目對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
C、衍射線位置對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
D、試樣形狀對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、2
B、3
C、4
D、6
A、不存在系統(tǒng)消光
B、h+k為奇數(shù)
C、h+k+l為奇數(shù)
D、h、k、l為異性數(shù)
A.6;
B.4;
C.2
D.1;。
A.垂直
B.平行
C.不一定
A、(364)
B、(234)
C、(213)
D、(468)
最新試題
熱分析中對(duì)樣品的重量沒有要求,只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi),就可以獲得良好的測(cè)試結(jié)果。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡(jiǎn)寫為()。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
X射線衍射儀中,通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為()。
1887年,Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。