A.采用大的相機半徑；
B.采用X射線較長的波長；
C.選用大的衍射角；
D.選用面間距較大的衍射面。
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A.30度；
B.60度；
C.90度。
A、溫度升高引起晶胞膨脹
B、使衍射線強度減小
C、產(chǎn)生熱漫散射
D、改變布拉格角
E、熱振動在高衍射角所降低的衍射強度較低角下小
A、晶粒大小對衍射強度的影響
B、參加衍射晶粒數(shù)目對衍射強度的影響
C、衍射線位置對衍射強度的影響
D、試樣形狀對衍射強度的影響
A、晶粒大小對衍射強度的影響
B、參加衍射晶粒數(shù)目對衍射強度的影響
C、衍射線位置對衍射強度的影響
D、試樣形狀對衍射強度的影響
A、晶粒大小對衍射強度的影響
B、參加衍射晶粒數(shù)目對衍射強度的影響
C、衍射線位置對衍射強度的影響
D、試樣形狀對衍射強度的影響
最新試題
關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。
電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。
當?shù)挂浊蚺c反射球相交，交線是一個圓環(huán)，環(huán)上每一點都滿足衍射條件，可以產(chǎn)生衍射。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
粉末多晶樣品中，不同晶面指數(shù)的倒易點分布在（）半徑的倒易球上。
根據(jù)衍襯運動學原理，理想晶體衍射強度隨（）而變化。
利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。
電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。
掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。