A、相機(jī)半徑越大,分辨率越高
B、θ角越大,分辨率越高
C、X射線波長(zhǎng)越小,分辨率越高
D、晶面間距越大,分辨率越低
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A、1﹕1
B、2﹕1
C、1﹕2
D、沒(méi)有確定比例
A.采用大的相機(jī)半徑;
B.采用X射線較長(zhǎng)的波長(zhǎng);
C.選用大的衍射角;
D.選用面間距較大的衍射面。
A.30度;
B.60度;
C.90度。
A、溫度升高引起晶胞膨脹
B、使衍射線強(qiáng)度減小
C、產(chǎn)生熱漫散射
D、改變布拉格角
E、熱振動(dòng)在高衍射角所降低的衍射強(qiáng)度較低角下小
A、晶粒大小對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
B、參加衍射晶粒數(shù)目對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
C、衍射線位置對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
D、試樣形狀對(duì)衍射強(qiáng)度的影響
最新試題
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡(jiǎn)寫(xiě)為()。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
在紅外光譜分析中,基本振動(dòng)區(qū)是指()。
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
紅外光分為()。
掃描電鏡的二次電子像中,樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子,在熒光屏上這些部位的亮度較大。
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
電子束與固體樣品作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品()的增加而增多。