A、正比計(jì)數(shù)器
B、蓋革計(jì)數(shù)器
C、閃爍計(jì)數(shù)器
D、鋰漂移硅檢測器
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A、正比計(jì)數(shù)器
B、蓋革計(jì)數(shù)器
C、閃爍計(jì)數(shù)器
D、A和B
A、正裝法
B、反裝法
C、偏裝法
D、任意安裝都可
A、塊狀
B、分散
C、圓柱形
D、任意形狀
A、相機(jī)半徑越大,分辨率越高
B、θ角越大,分辨率越高
C、X射線波長越小,分辨率越高
D、晶面間距越大,分辨率越低
A、1﹕1
B、2﹕1
C、1﹕2
D、沒有確定比例
最新試題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說法正確的是()。
根據(jù)衍襯運(yùn)動學(xué)原理,理想晶體衍射強(qiáng)度隨()而變化。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
熱分析中對樣品的重量沒有要求,只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi),就可以獲得良好的測試結(jié)果。
在電子探針中,測定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡寫為()。
變形振動分為()。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實(shí)現(xiàn)的。
在體心點(diǎn)陣中,當(dāng)(HKL)晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí),產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。