單項(xiàng)選擇題X射線物相定性分析時，若已知材料的物相可以查（）進(jìn)行核對。

A.哈氏無機(jī)數(shù)值索引；
B.芬克無機(jī)數(shù)值索引；
C.戴維無機(jī)字母索引；
D.A或B。


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1.單項(xiàng)選擇題測定鋼中的奧氏體含量，若采用定量X射線物相分析，常用方法是（）。

A.外標(biāo)法；
B.內(nèi)標(biāo)法；
C.直接比較法；
D.K值法。

2.單項(xiàng)選擇題利用X射線激發(fā)某種物質(zhì)會產(chǎn)生可見的熒光，而且熒光的多少與X射線強(qiáng)度成正比的特性而制造的計數(shù)器為（）

A、正比計數(shù)器
B、蓋革計數(shù)器
C、閃爍計數(shù)器
D、鋰漂移硅檢測器

3.單項(xiàng)選擇題以氣體電離為基礎(chǔ)制造的計數(shù)器是（）

A、正比計數(shù)器
B、蓋革計數(shù)器
C、閃爍計數(shù)器
D、A和B

4.單項(xiàng)選擇題低角的弧線接近中心孔，高角線靠近端部的底片安裝方法為（）

A、正裝法
B、反裝法
C、偏裝法
D、任意安裝都可

5.單項(xiàng)選擇題粉末照相法所用的試樣形狀為（）

A、塊狀
B、分散
C、圓柱形
D、任意形狀

最新試題

熱分析技術(shù)中，試樣用量越多，熱效應(yīng)大，內(nèi)部傳熱慢，溫度梯度大，導(dǎo)致峰形擴(kuò)大，峰頂溫度滯后，容易使相鄰峰重疊，降低分辨率。

題型：判斷題

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

題型：單項(xiàng)選擇題

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

題型：判斷題

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實(shí)現(xiàn)的。

題型：單項(xiàng)選擇題

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

題型：判斷題

差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。

題型：單項(xiàng)選擇題

在紅外光譜分析中，基本振動區(qū)是指（）。

題型：單項(xiàng)選擇題

電子束與固體樣品作用時，會產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。

題型：單項(xiàng)選擇題

關(guān)于X射線衍射儀的測量動作，說法正確的是（）。

題型：多項(xiàng)選擇題

電子探針的能譜儀和波譜儀比較，波譜儀（）。

題型：多項(xiàng)選擇題