A、外標(biāo)法
B、內(nèi)標(biāo)法
C、直接比較法
D、K值法
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A、外標(biāo)法
B、內(nèi)標(biāo)法
C、直接比較法
D、K值法
A、i
B、★
C、○
D、C
A、i
B、★
C、○
D、C
A.哈氏無(wú)機(jī)數(shù)值索引;
B.芬克無(wú)機(jī)數(shù)值索引;
C.戴維無(wú)機(jī)字母索引;
D.A或B。
A.外標(biāo)法;
B.內(nèi)標(biāo)法;
C.直接比較法;
D.K值法。
最新試題
電子探針和X射線衍射儀一樣,都可以直接確定材料中所包含的物相。
與光鏡呈像相比,掃描電鏡圖像立體感強(qiáng),形態(tài)逼真,這是由于掃描電鏡的()比光鏡大100-500倍。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
關(guān)于X射線衍射儀的測(cè)量動(dòng)作,說(shuō)法正確的是()。
在電子探針中,測(cè)定X射線特征能量的譜儀為能量分散譜儀,簡(jiǎn)寫(xiě)為()。
電子探針的能譜儀和波譜儀比較,波譜儀()。
在電子探針面分析中,根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布,可確定該元素在試樣中分布情況,亮區(qū)代表元素含量()。
孔徑半角越小,衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。
粉末多晶樣品中,不同晶面指數(shù)的倒易點(diǎn)分布在()半徑的倒易球上。
掃描電鏡的背散射電子像中,圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)()暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。