A、中間鏡的物平面與與物鏡的背焦面重合
B、中間鏡的物平面與與物鏡的像平面重合
C、關(guān)閉中間鏡
D、關(guān)閉物鏡
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、物鏡的物平面
B、物鏡的像平面
C、物鏡的背焦面
D、物鏡的前焦面
A、第二聚光鏡光闌
B、物鏡光闌
C、選區(qū)光闌
D、索拉光闌
A、電子源
B、會聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
A、電子源
B、會聚電子束
C、形成第一副高分辨率電子顯微圖像
D、進(jìn)一步放大物鏡像
最新試題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。
X射線衍射儀中，通常用于測定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。
利用電子探針對材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
（）需要試樣與參比物之間溫度始終保持相同。
差熱分析中，若試樣沒有熱效應(yīng)時，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱為（）。
在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。
利用電子探針的波譜儀，一個分光晶體能夠覆蓋的波長范圍有限的，因此一個分光晶體只能檢測一定原子序數(shù)范圍的元素。