A.被檢產(chǎn)品無缺陷；
B.被檢產(chǎn)品允許有缺陷部位；
C.被檢產(chǎn)品質(zhì)量低劣
D.被檢產(chǎn)品質(zhì)量不穩(wěn)定
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A.渦流試驗(yàn)不能準(zhǔn)確測(cè)量電導(dǎo)率；
B.需要低速試驗(yàn)以防漏檢；
C.在輸出顯示中出現(xiàn)大量的已知或未知的變量；
D.渦流試驗(yàn)不能檢出小缺陷
A.螺線管線圈
B.磁軛
C.螺線管線圈和磁軛
A.渦流與缺陷的主平面共面；
B.渦流垂直于缺陷的主平面；
C.渦流平行于缺陷的主平面；
D.渦流與線圈中的電流相位相差90°
A.決定于頻率、線圈電感、線圈電阻
B.僅僅決定于線圈電感
C.僅僅決定于頻率和線圈電阻
D.僅僅決定于頻率和線圈電感
A.工件的表面粗糙度
B.工件的直徑
C.工件的壁厚
D.工件的長(zhǎng)度
最新試題
底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測(cè)方法是X射線檢測(cè)。
觀察底片時(shí)，為能識(shí)別缺陷圖像，缺陷圖像對(duì)比度與圖像噪聲之比應(yīng)不小于識(shí)別閾值。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照，只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí)，就可采用多膠片技術(shù)。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。
增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。
X射線檢測(cè)圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確，因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測(cè)。
為了提高射線照相對(duì)比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。