單項(xiàng)選擇題用自比差動(dòng)式探頭對(duì)管材進(jìn)行探傷時(shí)，能抑制干擾信號(hào)是（）。

A.應(yīng)力緩慢變化
B.直徑緩慢變化
C.電導(dǎo)率緩慢變化
D.以上三點(diǎn)全是


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1.單項(xiàng)選擇題檢測(cè)探頭探到試件上的缺陷時(shí)，會(huì)使測(cè)量繞組發(fā)生變化的（）。

A.只有電阻
B.只有電抗
C.同時(shí)有電阻和電抗
D.先電阻后電抗

2.單項(xiàng)選擇題點(diǎn)探頭離試件表面距離變大時(shí)，探傷靈敏度（）。

A.下降
B.提高
C.不變
D.忽高忽低

4.單項(xiàng)選擇題自比差動(dòng)式穿過(guò)式線圈最難檢出（）。

A.棒材表面的凹坑
B.線材上的起皮
C.管材上均勻深度的長(zhǎng)裂紋
D.絲材上的夾雜

5.單項(xiàng)選擇題為了提高探頭靈敏度，點(diǎn)探頭繞組是繞于（）。

A.矽鋼片上
B.鐵**氧磁心上
C.塑料上
D.不銹鋼上

最新試題

在射線照相檢驗(yàn)中，隨著射線能量的提高，得到的圖像不清晰度也將增大。

題型：判斷題

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

題型：判斷題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型：判斷題

X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對(duì)需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注，確保定位準(zhǔn)確。

題型：判斷題

射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是（），必須嚴(yán)加控制。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。

題型：判斷題

檢測(cè)申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求，檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)，確保焊接、檢驗(yàn)、檢測(cè)等全過(guò)程具有可追溯性。

題型：判斷題

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應(yīng)符合工藝規(guī)程或工藝處理意見(jiàn)的要求，經(jīng)表面檢驗(yàn)合格，申請(qǐng)單無(wú)需檢驗(yàn)蓋章確認(rèn)。

題型：判斷題

對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品，工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定，檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn)，檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn)，否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。

題型：判斷題

為了提高射線照相對(duì)比度，可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。

題型：判斷題