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填空題電阻率條紋上沒有微缺陷蝕坑，宏觀上看不見小白點(diǎn)，腐蝕面為鏡面，這是（）和電阻率條紋最重要的區(qū)別。

1.填空題半導(dǎo)體晶體缺陷可以分為（）和微觀缺陷，以及點(diǎn)陣應(yīng)變和表面機(jī)械損傷。

2.填空題快速腐蝕時(shí)一般不受光照影響，而慢速腐蝕時(shí)（）影響比較大。

3.填空題目前常用的測(cè)量非平衡半導(dǎo)體晶體載流子壽命表的方法，一般可分為兩大類，（），穩(wěn)態(tài)法（間接法）。

4.填空題非平衡載流子的壽命ζ，就是反映（）的參數(shù)。

5.填空題四探針法測(cè)試，C的大小取決于四探針的（）和針距。