A.返回探頭的超聲能量的大小
B.被檢材料中反射體的位置
C.探頭移動(dòng)的距離
D.超聲脈沖發(fā)射之后經(jīng)過(guò)的時(shí)間
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A.0.25mm
B.0.125mm
C.1.0mm
D.1.5mm
A.陶瓷
B.石英
C.磁芯和線圈
D.導(dǎo)電金屬
A.提高表面分辨力
B.改變聲束入射方向
C.使聲束聚焦
D.以上都是
A.平底孔
B.V型槽
C.矩形槽
D.以上都是
A.波形轉(zhuǎn)換
B.壓電效應(yīng)
C.折射
D.阻抗匹配
最新試題
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí),()不是影響缺陷定位的主要因素。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的()。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
儀器水平線性影響()。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
底波計(jì)算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí),下面敘述中()是錯(cuò)誤的。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。