A.試塊比較
B.試塊計算
C.AVG曲線
D.以上都可以
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A.聲程標(biāo)定法
B.水平標(biāo)定法
C.深度標(biāo)定法
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度小于3N的工件
D.以上都是
A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
A.根據(jù)入射角度不同,試件中可同時產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測,儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
儀器水平線性影響()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。