A.不受工件底面狀況影響
B.不需要考慮傳輸修正
C.適用于厚度大于3N的工件
D.以上都是
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A.根據(jù)入射角度不同,試件中可同時(shí)產(chǎn)生縱波和橫波
B.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生純橫波
C.根據(jù)入射角度不同,試件中可產(chǎn)生表面波
D.以上都正確
A.掃查方式
B.掃查速度
C.掃查間距
D.以上都是
A.缺陷反射波高度
B.背反射損失
C.沿試件表面測量出的缺陷延伸范圍
D.以上都是
A.在確定的檢測條件下,缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時(shí),可用底面回波高度法進(jìn)行評(píng)定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進(jìn)行比較,稱為當(dāng)量評(píng)定法
D.以上都是
A.試塊對(duì)比
B.當(dāng)量計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都是
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
探頭延檢測面水平移動(dòng),超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
儀器水平線性影響()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯(cuò)誤的是()。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射,這種波是()。