圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖，根據(jù)圖示判斷A探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波（）
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
圖是測試橫波探頭示意圖，根據(jù)圖示判斷是以下哪個測試項目（）
A.折射角
B.入射點
C.入射角
D.探頭前沿
圖是橫波檢測示意圖。如果按聲程調(diào)整時基線且已知零件的厚度t和探頭折射角β，則圖中缺陷的深度位置d應(yīng)按以下哪個公式計算（）
A.A
B.B
C.C
D.D
圖是橫波檢測示意圖，圖中缺陷位置對應(yīng)的聲束是 （）
A.一次波
B.直射波
C.二次波
D.以上都不是
圖是橫波檢測示意圖，圖中缺陷位置在哪個跨距內(nèi)（）
A.0.5跨距
B.1.0跨距
C.1.5跨距
D.2.0跨距
圖是橫波檢測示意圖，圖中標注的A、B、C、D4個水平距離中，哪個表示2.0跨距（）
A.A
B.B
C.C
D.D
最新試題
利用底波計算法進行靈敏度校準時，適用的工件厚度為（）。
利用底波計算法校準靈敏度時，下面敘述中（）是錯誤的。
移動探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動探頭，缺陷回波高度降低一半時，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點，兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
（）是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
當調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時，需要進行傳輸修正。
當縱波直探頭置于細長工件上時，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。