A.必須確認(rèn)探頭折射角度和入射點(diǎn)
B.零件越薄時(shí)，使用的橫波角度也相應(yīng)越大
C.有三種時(shí)間基線的調(diào)整方法
D.以上都是
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A.相同頻率下，橫波比縱波的分辨力低
B.相同頻率下，橫波比縱波的穿透力低
C.與縱波一樣，橫波聲場(chǎng)近場(chǎng)區(qū)也存在干擾
D.與縱波一樣，側(cè)壁對(duì)橫波反射也會(huì)產(chǎn)生影響
A.在端角或棱邊會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的反射回波
B.聲束以小角度斜入射至底面時(shí)反射聲束將產(chǎn)生位移
C.與縱波相比，橫波對(duì)表面變化不敏感
D.以上都是
A.14°
B.27°
C.38°
D.49°
A.14°
B.27°
C.38°
D.49°
A.25%
B.50%
C.75%
D.100%
最新試題
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來(lái)表征。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí)，在第一次底波之后，還有2個(gè)特定位置的反射波，這種波是（）。
（）可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。