單項(xiàng)選擇題接觸法45°橫波探測50mm厚鋁板時(shí)，如果按水平距離1：2調(diào)整時(shí)間基線且入射點(diǎn)位于零位的話，0.5跨距點(diǎn)應(yīng)在顯示屏的何位置處？（）

A.25%
B.50%
C.75%
D.100%


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2.單項(xiàng)選擇題接觸法45°橫波按聲程1：1調(diào)整時(shí)間基線探測50mm厚鋁板時(shí)，發(fā)現(xiàn)位于顯示屏80%處有一個(gè)顯示信號(hào)。該顯示位于鋁板的何處位置（）

A.距入射點(diǎn)約50.2mm、埋深38.6mm處
B.距入射點(diǎn)約56.5mm、埋深43.4mm處
C.距入射點(diǎn)約70.4mm、埋深22.3mm處
D.距入射點(diǎn)約80.1mm、埋深.16.5mm處

4.單項(xiàng)選擇題以下有關(guān)縱波斜入射至側(cè)壁的描述；哪個(gè)是正確的（）

A.由于分離出較強(qiáng)的橫波，縱波反射系數(shù)很低
B.由于分離出較強(qiáng)的橫波，縱波衰減嚴(yán)重
C.由于分離出較強(qiáng)的橫波，可以接收到反射橫波
D.以上都是

5.單項(xiàng)選擇題以下有關(guān)雙晶片探頭（聯(lián)合雙探頭）的描述，哪個(gè)是正確的（）

A.存在聲能集中區(qū)
B.下盲區(qū)小
C.掃查時(shí)，隔聲層應(yīng)盡量與缺陷方向垂直
D.以上都是

最新試題

（）是影響缺陷定量的因素。

題型：單項(xiàng)選擇題

（）可以檢測出與探測面垂直的橫向缺陷。

題型：單項(xiàng)選擇題

在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。

題型：單項(xiàng)選擇題

當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。

題型：單項(xiàng)選擇題

調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。

題型：單項(xiàng)選擇題

關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。

題型：單項(xiàng)選擇題

利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。

題型：單項(xiàng)選擇題

移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。

題型：單項(xiàng)選擇題

超聲檢測對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。

題型：單項(xiàng)選擇題

調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。

題型：單項(xiàng)選擇題