A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.以上都可以
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A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法
A.制作同厚度的直徑3.2mm平底孔參考試塊用于調(diào)整起始靈敏度
B.按直徑3.2mm當(dāng)量值計(jì)算法調(diào)整起始靈敏度
C.找出該鋁件底波后增加20dB作為起始靈敏度
D.采用厚度100mm參考試塊、分區(qū)域調(diào)整起始靈敏度
A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
A.橫通孔試塊
B.平底孔試塊(橫波)
C.帶棱邊的矩形試塊
D.以上都可以
A.35°
B.45°
C.55°
D.60°
最新試題
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來(lái)表征。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
()是影響缺陷定量的因素。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
單探頭法容易檢出()。