圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖(陰影區(qū)為積水)。由圖示判斷,如果探頭在位置4處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是()
A.A圖
B.B圖
C.C圖
D.D圖
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圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖(陰影區(qū)為積水)。由圖示判斷,如果探頭在位置4處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是()
A.A圖
B.B圖
C.C圖
D.D圖
圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖(陰影區(qū)為積水)。由圖示判斷,如果探頭在位置2處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是()
A.A圖
B.B圖
C.C圖
D.D圖
圖是一組超聲檢查復(fù)合材料蜂窩內(nèi)積水情況示意圖(陰影區(qū)為積水)。由圖示判斷,如果探頭在位置1處的熒光屏出現(xiàn)的波形圖應(yīng)是()
A.A圖
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A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點或暗點顯示回波信號、形成平面投影圖
A.縱坐標(biāo)表示回波聲壓幅度、橫坐標(biāo)表示頻率響應(yīng)
B.縱坐標(biāo)表示傳播時間、橫坐標(biāo)表示探頭的水平位置
C.橫坐標(biāo)表示傳播時間、縱坐標(biāo)表示聲壓幅度
D.用亮點或暗點顯示回波信號、形成平面投影圖
最新試題
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()是影響缺陷定量的因素。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
單探頭法容易檢出()。
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
利用底波計算法校準(zhǔn)靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進(jìn)行()。