單項(xiàng)選擇題試塊的最小幾何尺寸根據(jù)（）。

A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對(duì)


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1.單項(xiàng)選擇題采用雙晶直探頭檢驗(yàn)大口徑“管座角焊縫”時(shí)，調(diào)節(jié)探傷靈敏度應(yīng)采用（）。

A、底波計(jì)算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以

2.單項(xiàng)選擇題直接接觸法探傷可以使用（）。

A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以

3.單項(xiàng)選擇題下列（）晶片發(fā)射縱波的近場(chǎng)區(qū)最長(zhǎng)。

A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm

4.單項(xiàng)選擇題以下（）1MHz探頭通常具有最佳的時(shí)間或垂直距離的分辨力。

A、無背襯石英探頭
B、帶酚醛樹脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹脂背襯的硫酸鋰探頭

5.單項(xiàng)選擇題2.5PB20Z表示（）。

A、頻率為2.5MHz
B、圓晶片直徑為20㎜
C、晶片材料為鈦酸鋇陶瓷
D、以上都對(duì)

最新試題

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

在遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)，當(dāng)缺陷比聲束截面小時(shí)，缺陷波高與缺陷面積成（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

采用以（）為橫坐標(biāo)，以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

直接射向缺陷的波就是（）

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

渦流檢測(cè)線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。

題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題