A.早期
B.中期
C.詳細(xì)設(shè)計(jì)階段
D.定稿階段
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A.0.002
B.0.998
C.0.004
D.0.996
A.C正比于n，正比于α
B.C正比于n，反比于α
C.C反比于n，反比于α
D.C反比于n，正比于α
A.指數(shù)分布
B.均勻分布
C.威布爾分布
D.正態(tài)分布
最新試題
某系統(tǒng)由三個(gè)電容器并聯(lián)而成，假定選定失效模式是電容短路，則系統(tǒng)的可靠性邏輯圖是串聯(lián)的。
產(chǎn)品可靠性與（）無(wú)關(guān)。
采用加速壽命試驗(yàn)應(yīng)注意：（）和（）
可靠性試驗(yàn)中，環(huán)境應(yīng)力篩選最有效辦法是：（）和（）
用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。
故障樹(shù)分析是用一系列（）和轉(zhuǎn)移符號(hào)描述系統(tǒng)中各種事件之間的因果關(guān)系中各種事件之間的因果關(guān)系的。
下列關(guān)于可維護(hù)性的陳述當(dāng)中哪一個(gè)是真實(shí)的（）
四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。
下列失效率函數(shù)曲線中，屬于早期失效型的曲線為（）
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的（）