A.縱波折射角大于入射角
B.縱、橫波折射角均小于入射角
C.橫波折射角小于入射角
D.以上全不對(duì)
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A.縱波折射角等于90°時(shí)的橫波入射角
B.橫波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角
C.縱波折射角等于90°時(shí)的縱波入射角
D.縱波入射角等于90°時(shí)的折射角
A.折射縱波等于90°時(shí)的橫波入射角
B.折射橫波等于90°時(shí)的縱波入射角
C.折射縱波等于90°時(shí)的縱波入射角
D.入射縱波接近90°時(shí)的折射角
A.反射縱波
B.反射橫波
C.折射縱波和折射橫波
D.以上都有
A.入射波波型
B.入射角度
C.界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗
D.以上都是
A.R+T=1
B.T=1-R
C.R=1-T
D.以上全對(duì)
最新試題
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對(duì)缺陷進(jìn)行()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
實(shí)際檢測(cè)中,為了提高掃查速度而又不引起漏檢,常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高,這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。