A.檢測(cè)大厚度件,選擇較低的頻率有利于減少聲程衰減
B.檢測(cè)小厚度件,選擇較高的頻率有利于提高表面缺陷的檢測(cè)能力
C.檢測(cè)表面粗糙件,選擇較低頻率有利于減少表面散射損耗
D.以上都正確
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A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.探頭
D.以上都是
A.儀器的頻帶寬度
B.檢測(cè)頻率
C.聲入射方向
D.以上都是
A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
A.100%比25%
B.100%比50%
C.100%比12.5%
D.不確定
橫波雙探頭檢測(cè)技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式3有利于檢測(cè)以下哪種內(nèi)部缺陷?()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
最新試題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn),說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
用橫波斜探頭檢測(cè),找到缺陷最大回波后,探頭所在截面及()可以確定缺陷位置。