多項(xiàng)選擇題TEM成像系統(tǒng)由（）、（）和（）組成。
A.物鏡
B.聚光鏡
C.中間鏡
D.投影鏡
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1.單項(xiàng)選擇題將某一衍射斑點(diǎn)移到熒光屏中心并用物鏡光欄套住該衍射斑點(diǎn)成像，這是（）。
A.明場(chǎng)像
B.暗場(chǎng)像
C.中心暗場(chǎng)像
D.弱束暗場(chǎng)像
2.單項(xiàng)選擇題由于試樣的質(zhì)量和厚度不同，各部分與入射電子發(fā)生相互作用，產(chǎn)生的吸收與散射程度不同，而使得透射電子束的強(qiáng)度分布不同，形成反差，稱為（）。
A.形貌襯度
B.衍射襯度
C.質(zhì)厚襯度
D.相位襯度
3.單項(xiàng)選擇題可以提高透射電子顯微鏡的襯度的光欄是（）。
A.第二聚光鏡光欄
B.物鏡光欄
C.選區(qū)光欄
D.第一聚光鏡光欄
4.單項(xiàng)選擇題電子束穿透固體樣品的能力，主要取決于電壓V和樣品物質(zhì)的原子序數(shù)Z。一般V （），Z （），電子束可以穿透的樣品厚度越大。
A.越低，越低
B.越低，越高
C.越高，越高
D.越高，越低
最新試題
在熱分析技術(shù)中，利用程序溫控裝置，可以升溫、降溫，但不能測(cè)定材料在恒溫過程中發(fā)生的變化。
題型：判斷題
1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。
題型：判斷題
電子束與固體樣品作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生背散射電子。背反射電子的產(chǎn)額隨樣品（）的增加而增多。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在體心點(diǎn)陣中，當(dāng)（HKL）晶面的H+K+L為奇數(shù)時(shí)，產(chǎn)生系統(tǒng)消光。
題型：判斷題
孔徑半角越小，衍射效應(yīng)所決定的電磁透鏡的分辨率越高。
題型：判斷題
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
題型：判斷題
X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析，包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。
題型：判斷題
簡(jiǎn)單立方結(jié)構(gòu)材料發(fā)生衍射時(shí)，可以產(chǎn)生衍射的晶面為（）。
題型：多項(xiàng)選擇題
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線，說法正確的是（）。
題型：多項(xiàng)選擇題