A.點(diǎn)到線測(cè)量方式
B.斜距離測(cè)量方式
C.比較法測(cè)量方式
D.直線距離測(cè)量方式
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.17μm~20μm 之間
B.6.5μm~17μm 之間
C.20μm~30μm 之間
D.30μm~40μm 之間
A.發(fā)光體的亮度
B.點(diǎn)、線、面光源
C.漫射光源
D.不同波長(zhǎng)的可見(jiàn)光光源
A.只能檢驗(yàn)鐵磁性材料
B.只能檢驗(yàn)工件表面和近表面缺陷
C.受工件幾何形狀影響可能會(huì)產(chǎn)生非相關(guān)顯示
D.磁軛法磁化時(shí),易產(chǎn)生電弧,燒傷工件
A.單相半波整流電
B.三相全波整流電
C.單相全波整流電
D.直流電
A.鍛造裂紋
B.鍛造折疊
C.白點(diǎn)
D.夾渣
最新試題
檢測(cè)與工件軸線方向平行的缺陷時(shí),不可使用的磁化方法是:()。
因?yàn)槌暡〞?huì)擴(kuò)散衰減, 所以檢測(cè)必須在未擴(kuò)散區(qū)檢測(cè)。
蒸汽發(fā)生器二次側(cè)在役內(nèi)部目視檢驗(yàn)前的準(zhǔn)備工作包括:()。
下列缺陷可能影響無(wú)損檢測(cè)結(jié)果判斷的是:()。
工件表面太粗糙、工件表面被污染、磁場(chǎng)強(qiáng)度過(guò)大或磁懸液濃度過(guò)大等,都會(huì)產(chǎn)生過(guò)度背景。其磁痕特征是:()。
核電站專設(shè)安全系統(tǒng)中有冷源的系統(tǒng)是:()。
當(dāng)板上有水或油時(shí),蘭姆波的衰減顯著增大。
圖像傳導(dǎo)束光纖的直徑一般在:()。
下面視頻內(nèi)窺鏡測(cè)量技術(shù),哪種不是陰影測(cè)量法:()。
鍛件磁粉檢驗(yàn)時(shí),磁痕顯示不濃密,但對(duì)其表面打磨后磁痕更加清晰,可能是以下哪種缺陷造成的()?