A.當(dāng)量法確定的缺陷尺寸能夠代表實(shí)際的缺陷尺寸
B.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法適用于面積大于聲束截面的缺陷
C.底面回波高度法適用于面積大于聲束截面的缺陷
D.以上都正確
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A.斜射縱波
B.斜射橫波
C.表面波
D.都可以
A.斜楔材料的縱波聲速小于工件中的橫波聲速
B.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的橫波聲速
C.斜楔材料的縱波聲速大于工件中的縱波聲速
D.以上都是
A.各種尺寸的體積缺陷
B.小于聲束截面的缺陷
C.大于聲束截面的缺陷
D.評(píng)定缺陷尺寸僅與參考試塊有關(guān)
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.以上都可以
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定法
最新試題
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱(chēng)為缺陷的（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是（）。
（）和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱(chēng)為（）。