A.避免在靠近強(qiáng)磁場(chǎng)、有強(qiáng)烈振動(dòng)的場(chǎng)合使用儀器
B.儀器工作時(shí)防止雨、雪、水、機(jī)油進(jìn)入儀器內(nèi)部
C.放電后的蓄電池應(yīng)及時(shí)充電
D.氣候潮濕地區(qū)或季節(jié),長(zhǎng)期不用應(yīng)定期開(kāi)機(jī),開(kāi)機(jī)時(shí)間約10min
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A.掃描電路
B.接收電路
C.同步電路
D.發(fā)射電路
A.超聲檢測(cè)儀通過(guò)產(chǎn)生電振蕩并加于超聲波探頭上,激勵(lì)探頭晶片振動(dòng)發(fā)射超聲波
B.超聲檢測(cè)儀可將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大,通過(guò)一定形式顯示出來(lái)
C.超聲檢測(cè)儀可以得到被探測(cè)工件表面及內(nèi)部有無(wú)缺陷及缺陷位置和大小
D.超聲檢測(cè)儀是超聲檢測(cè)的主體設(shè)備
A.用來(lái)描述距離、波幅和缺陷當(dāng)量之間的關(guān)系曲線
B.實(shí)用AVG曲線可以理論計(jì)算得到或者由通用AVG曲線得到
C.實(shí)用AVG曲線只適用于特定探頭
D.實(shí)用AVG曲線中要注明探頭的尺寸和頻率
A.表示回波聲程、幅度(dB)和缺陷大小之間關(guān)系的曲線
B.用于缺陷定量和靈敏度調(diào)整
C.聲程以探頭的近場(chǎng)區(qū)為單位,缺陷以探頭的直徑為單位,幅值以始波高度為參考值
D.適用于全部聲程
A.6dB
B.12dB
C.3dB
D.18dB
最新試題
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí),應(yīng)使()同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()是影響缺陷定量的因素。
()可以對(duì)管路、管道進(jìn)行長(zhǎng)距離檢測(cè)。
儀器水平線性影響()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。