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最新試題
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。
色譜流出曲線圖中的標(biāo)準(zhǔn)差是指正態(tài)色譜峰上兩拐點(diǎn)間距離的一半，其大小反映組分流出色譜柱的離散程度，標(biāo)準(zhǔn)差越大，色譜峰越寬。
自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起，可設(shè)法消除。
程序升溫是一種氣相色譜分析技術(shù)，用于改善組分的分配比、傳質(zhì)速率、分離度、峰型和提高分析速度，以達(dá)到用最短時(shí)間獲得最佳分離的目的。
原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì)，還能提供原子或離子來(lái)源的分子信息。
離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對(duì)應(yīng)的離子活度范圍稱(chēng)為離子選擇性電極的線性范圍。
石墨管式原子化器的檢測(cè)限比火焰原子化器高，注入的試樣幾乎可全部原子化，基態(tài)原子在光路中停留的時(shí)間短。
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，灰化的的目的是去除基體，尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測(cè)原子時(shí)，使用盡可能高的溫度和長(zhǎng)的時(shí)間。
分子內(nèi)各種官能團(tuán)的特征吸收峰只出現(xiàn)在紅外光波譜的一定范圍。
軟電離離子化能量高，分子離子的碎片信息豐富，提供的分子官能團(tuán)等結(jié)構(gòu)信息。