A.初相位
B.周期
C.相位素
D.波長
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A.直流電流
B.交流電流
C.以上都對
D.脈沖電流
A.正比
B.反比
C.不成比例
D.任意
A.恒大于1
B.恒等于1
C.恒等于零
D.恒小于1
A.大于
B.恒等于
C.小于
D.大于等于
A.高電位流向低電位
B.低電位流向高電位
C.高電位流向高電位
D.低電位流向低電位
最新試題
對于圓柱體而言，外圓徑向檢測實(shí)心圓柱體時，入射點(diǎn)處的回波聲壓理論上同平底面工件相同。
缺陷垂直時，擴(kuò)散波束入射至缺陷時回波較高，而定位時就會誤認(rèn)為缺陷在軸線上，從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
超聲波在圓柱內(nèi)反射，如果縱波在圓柱面上發(fā)生波形轉(zhuǎn)換，且一次反射橫波再經(jīng)另一側(cè)圓柱面波形轉(zhuǎn)換成二反射縱波，返回探頭接收，會形成等邊的三角形遲到回波。
由于圓柱形工件有一定的曲率，直探頭與工件直接接觸時，接觸面為一條很寬的條形區(qū)域，從在而在圓柱的橫截面內(nèi)會產(chǎn)生強(qiáng)烈的聲束擴(kuò)散。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
發(fā)射電壓幅度也就是發(fā)射脈沖幅度，它的高低主要影響發(fā)射的超聲波能量。
儀器時基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié)，當(dāng)工件與試塊的聲速不同時，儀器的時基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。
動態(tài)范圍的最小信號可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
儀器時基線調(diào)節(jié)比例時，若回波前沿沒有對準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會使缺陷定位誤差增加。
對于橫波斜探頭而言，不同K值的探頭的靈敏度不同，因此探頭K值偏差也會影響缺陷的定量。