A.復合界面始終存在界面回波
B.從復合層側檢測，如完全脫節(jié)，則無底波
C.從母材側檢測，工件中界面波低于試塊中界面波，工件中底波高于試塊中底波，則復合面為不完全脫節(jié)
D.底波與復合界面回波高度dB差實測值小于理論計算值，表示存在脫節(jié)
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A.應針對具體產品，有明確的工藝參數(shù)和技術要求；
B.涵蓋本單位產品的檢測范圍
C.符合產品標準、有關技術文件和JB/T4730標準要求
D.應有檢測記錄、報告、資料存檔和質量等級分類要求
A.對接接頭中的缺陷按性質可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷和圓形缺陷
B.質量等級是根據(jù)對接接頭中的缺陷性質、數(shù)量和密集程度來劃分的
C.小徑管的圓形缺陷評定區(qū)為10mm×10mm，評定區(qū)大小與母材公稱厚度無關
D.未焊透缺陷分級時，對斷續(xù)未焊透，以未焊透本身的長度累計計算總長度
A.底片評定范圍內的黑度規(guī)定與檢測技術等級有關
B.用X射線或γ射線透照小徑管時，AB級最低黑度允許降至1.5
C.采用多膠片方法時，單片觀察的的黑度應不低于1.3
D.若有計量報告證明觀片燈亮度滿足要求，可對D＞4.0底片進行評定
A.放置在距焊縫5mm以內的部位
B.所有標記的影像不應重疊
C.所有標記均應放置在源側工件表面
D.不應有干擾有效評定范圍的影像
A.圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形
B.在標準規(guī)定的條件下，各級別的圓形缺陷點數(shù)可放寬1～2點
C.當對接焊接接頭存在深孔缺陷時，其質量級別應評為Ⅳ級
D.質量等級為Ⅰ級和Ⅱ級對接焊接接頭，不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內不得多于10個，超過時對接焊接接頭質量等級應降低一級
最新試題
光電效應發(fā)生的機率隨什么變化（）
對于平行于檢測面的缺陷，一般采用（）檢測。
發(fā)生康普頓散射的條件是（）
一個均勻的輻射光束強度為I0的射線，穿過一個厚度為X的物質，其強度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
最容易發(fā)生光電效應的射線能量為（）
某超聲波探頭，壓電晶片的頻率常數(shù)Nt=1500m/s晶片厚度為0.3mm，則該探頭工作頻率為（）
康普頓效應對射線檢測的影響包括（）
下列對耦合劑應該具有的特點的描述，不正確的一項是（）
調節(jié)掃描速度時，應使（）同時對準相應的水平刻度值。
底片清晰度與增感屏顆粒度的關系是（）