A.在確定的檢測條件下，缺陷的大小可用波高值來表示
B.缺陷反射面小于入射聲束截面時(shí)，可用底面回波高度法進(jìn)行評定
C.缺陷回波幅度與人工反射體回波幅度進(jìn)行比較，稱為當(dāng)量評定法
D.以上都是
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A.試塊對比
B.當(dāng)量計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都是
A.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
B.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
C.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
D.用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.小于實(shí)際缺陷面積
B.等于實(shí)際缺陷面積
C.大于實(shí)際缺陷面積
D.以上說法均不正確
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為（）。
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
單探頭法容易檢出（）。
實(shí)際檢測中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯(cuò)誤的是（）。
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
超聲檢測系統(tǒng)的靈敏度余量（）。