A.試塊對(duì)比
B.當(dāng)量計(jì)算
C.AVG曲線
D.以上都是
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A.將接觸法檢驗(yàn)改為液浸法檢驗(yàn)
B.將縱波檢驗(yàn)改為橫波檢驗(yàn)
C.用直徑較小的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
D.用直徑較大的探頭進(jìn)行檢驗(yàn)
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.φ0.8mm
B.φ1.0mm
C.φ2.0mm
D.φ4.0mm
A.小于實(shí)際缺陷面積
B.等于實(shí)際缺陷面積
C.大于實(shí)際缺陷面積
D.以上說(shuō)法均不正確
A.由于實(shí)際缺陷的形狀、性質(zhì)等原因，很難確定缺陷的真實(shí)尺寸
B.當(dāng)量法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
C.缺陷回波高度法適用于評(píng)定小于聲束截面尺寸的缺陷
D.以上都正確
最新試題
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長(zhǎng)工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
單探頭法容易檢出（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來(lái)確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
調(diào)節(jié)時(shí)基線時(shí)，應(yīng)使（）同時(shí)對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。