圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
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圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R25圓弧面時的示意圖。此時,各反射波之間的間距應(yīng)是多少()
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R25圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況?()
A.25、100
B.25、50、100
C.25、50、75、100
D.以上都可能
圖是測試橫波探頭不同折射角對應(yīng)探頭位置的示意圖,根據(jù)圖示判斷C探頭位置測試的折射角是利用以下哪個面的回波()
A.孔1
B.側(cè)壁
C.孔2
D.弧面
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直接接觸法是指探頭與工件之間()。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進行靈敏度校準(zhǔn)。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
當(dāng)超聲波到達工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
()可以檢測出與探測面相垂直的面狀缺陷。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
縱波直探頭徑向檢測實心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
關(guān)于液浸法的優(yōu)點,說法錯誤的是()。
儀器水平線性影響()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。