判斷題頻率和晶片尺寸相同，橫波指向性比縱波好。
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當(dāng)量法用來測量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型：判斷題
縱波直探頭法主要用于檢測與檢測面平行的缺陷。
題型：判斷題
穿透法的最大優(yōu)點(diǎn)是不存在盲區(qū)，但小缺陷易漏檢。
題型：判斷題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測范圍。
題型：判斷題
軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對探傷的影響。
題型：判斷題
檢測面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。
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檢測面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測技術(shù)綜合考慮。
題型：判斷題
底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
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單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。
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橫波法主要用于檢測與檢測面成一定傾角的缺陷。
題型：判斷題