判斷題底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
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與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。
題型：判斷題
“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
題型：判斷題
底波高度法經(jīng)常作為缺陷回波法的一種輔助手段。
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液浸法的優(yōu)點(diǎn)之一是聲耦合穩(wěn)定，檢測(cè)結(jié)果重復(fù)性好。
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斜探頭中，楔塊的作用是使縱波斜入射到工件中，通過(guò)波型轉(zhuǎn)換產(chǎn)生橫波、表面波或板波。
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單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。
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利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測(cè)定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
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測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。
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斜探頭前部磨損較多時(shí)，探頭的K值將變小。
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工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。
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