判斷題在通用AVG曲線上，可直接查得缺陷的實(shí)際聲程和當(dāng)量尺寸。
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最新試題
串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。
題型：判斷題
脈沖重復(fù)頻率的調(diào)節(jié)與被探工件厚度有關(guān)，對(duì)厚度大的工件，應(yīng)采用較低的重復(fù)頻率。
題型：判斷題
橫波法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面成一定傾角的缺陷。
題型：判斷題
曲面工件探傷時(shí)，探傷面曲率半徑愈大，耦合效果愈好。
題型：判斷題
斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。
題型：判斷題
檢測(cè)面的選擇主要考慮缺陷取向，并結(jié)合工件形狀和檢測(cè)技術(shù)綜合考慮。
題型：判斷題
測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。
題型：判斷題
實(shí)際探傷中，為提高掃查速度，減少雜波的干擾，應(yīng)將探傷靈敏度適當(dāng)降低。
題型：判斷題
當(dāng)量法用來測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型：判斷題
工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。
題型：判斷題