判斷題工件比較粗糙時(shí)，為防止探頭磨損和保護(hù)晶片，宜選用硬保護(hù)膜。
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串列法探傷適用于檢測(cè)垂直于探測(cè)面的平面缺陷。
題型：判斷題
縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
題型：判斷題
雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。
題型：判斷題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。
題型：判斷題
與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測(cè)定斜探頭的分辨力。
題型：判斷題
由于水中只能傳播縱波，所以水浸探頭不能進(jìn)行橫波探傷。
題型：判斷題
盲區(qū)與始波寬度是同一概念。
題型：判斷題
檢測(cè)面準(zhǔn)備的目的是為了保證良好的聲耦合。
題型：判斷題
軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。
題型：判斷題
縱波直探頭法主要用于檢測(cè)與檢測(cè)面平行的缺陷。
題型：判斷題