判斷題雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。
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縱波斜探頭法的優(yōu)點(diǎn)是工件中既有縱波，又有橫波，因此可同時(shí)用縱波和橫波進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
題型：判斷題
測(cè)定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型：判斷題
測(cè)定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測(cè)試。
題型：判斷題
單探頭法是反射法，雙探頭法都是穿透法。
題型：判斷題
雙晶直探頭傾角越大，交點(diǎn)離探測(cè)面距離愈遠(yuǎn)，覆蓋區(qū)愈大。
題型：判斷題
當(dāng)量法用來(lái)測(cè)量大于聲束截面的缺陷的尺寸。
題型：判斷題
軟保護(hù)膜探頭可減少粗糙表面對(duì)探傷的影響。
題型：判斷題
穿透法靈敏度高于脈沖反射法。
題型：判斷題
斜探頭楔塊上部和前部開消聲槽的目的是使聲波反射回晶片處，減少聲能損失。
題型：判斷題
CSKⅠA試塊上R100和R50兩個(gè)階梯圓弧面可用來(lái)調(diào)節(jié)橫波掃描速度和探測(cè)范圍。
題型：判斷題