最新試題
測定儀器垂直線性和動(dòng)態(tài)范圍時(shí)，應(yīng)將儀器的“抑制”和“深度補(bǔ)償”旋鈕置于關(guān)的位置。
題型：判斷題
多次底波法缺陷檢出靈敏度低于缺陷回波法。
題型：判斷題
利用IIW試塊上的φ50孔兩側(cè)面的距離，只能測定直探頭盲區(qū)的大致范圍。
題型：判斷題
目前使用最廣泛的超聲測厚儀是脈沖反射式測厚儀。
題型：判斷題
與IIW試塊相比，CSKⅠA試塊的優(yōu)點(diǎn)之一是可以測定斜探頭的分辨力。
題型：判斷題
“靈敏度”意味著發(fā)現(xiàn)小缺陷的能力，因此超聲波探傷靈敏度越高越好。
題型：判斷題
測定組合靈敏度時(shí)，應(yīng)先調(diào)節(jié)儀器的“抑制”旋鈕，使電燥聲電平≦10%，再進(jìn)行測試。
題型：判斷題
盲區(qū)與始波寬度是同一概念。
題型：判斷題
串列法探傷適用于檢測垂直于探測面的平面缺陷。
題型：判斷題
多探頭法是用兩個(gè)以上的探頭同時(shí)工作的檢測方法。
題型：判斷題