A.沾污面積
B.校正后的沾污面積
C.最底層的沾污面積
D.最上層的沾污面積
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.校正系數(shù)
B.注水壓力
C.注水指數(shù)
D.測(cè)井速度
A.油管內(nèi)壁
B.油管外壁
C.配水器
D.套管內(nèi)壁
A.吸附
B.沉淀
C.筒狀
D.環(huán)狀
A.吸附
B.沉淀
C.套管
D.油管
A.環(huán)狀源、面狀源和線狀源
B.點(diǎn)狀源、筒狀源和環(huán)狀源
C.面狀源、點(diǎn)狀源和線狀源
D.環(huán)狀源、線狀源和筒狀源
最新試題
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。
在相同的外加磁場(chǎng)中，不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率（）。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。
核磁共振弛豫受三種機(jī)制控制：表面弛豫、體積弛豫和（）。
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
利用多極子聲波測(cè)井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和（）等特征參數(shù)。
微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)（）儀器的垂向分辨率。
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變，當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)（）橫向弛豫時(shí)。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。