A.粉質(zhì)黏土
B.砂質(zhì)黏土
C.殘積土
D.土狀強風(fēng)化巖
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.泥炭土
B.粉質(zhì)黏土
C.淤泥質(zhì)土
D.砂土
A.地基變形計算深度,對中、低壓縮性土可取附加壓力等于上覆土層有效自重壓力15%時的深度;對于高壓縮性土層可取附加壓力等于上覆土層有效自重壓力
B.對基巖破碎帶或發(fā)育溶洞等不良地質(zhì)作用的嵌巖樁,勘探深度應(yīng)進(jìn)入預(yù)計樁端以下穩(wěn)定地層不小于6倍設(shè)計樁徑,有球狀風(fēng)化體(孤石)分布時,勘探深度應(yīng)大于預(yù)計樁端以下不小于3倍設(shè)計樁徑
C.獨立地下建(構(gòu))筑物或高層建筑的裙房,當(dāng)需設(shè)置抗浮樁或抗浮錨桿時,勘探深度應(yīng)滿足抗拔承載力評價的要求
D.需做變形計算的地基,控制性勘探深度應(yīng)超過地基變形計算深度1m~3m;當(dāng)有大面積地面堆載或軟弱下臥層時,控制性勘探深度應(yīng)適當(dāng)加深,并穿越軟弱地層進(jìn)入穩(wěn)定地層不少于3m
A.端承樁勘探點間距10m,摩擦樁25m,抗拔樁25m
B.端承樁勘探點間距15m,摩擦樁25m,抗拔樁30m
C.端承樁勘探點間距20m,摩擦樁28m,抗拔樁32m
D.端承樁勘探點間距23m,摩擦樁35m,抗拔樁35m
A.單棟高層建筑勘探點的布置應(yīng)滿足對地基均勻性的評價要求,且不應(yīng)少于4個,對勘察等級為甲級的高層建筑,當(dāng)基礎(chǔ)寬度大于30m 時,應(yīng)在中心點或電梯井、核心筒體部分布設(shè)勘探點
B.在花崗巖孤石發(fā)育區(qū)和巖溶發(fā)育地區(qū),勘探點間距宜小于10m或每柱不少于一個勘探點
C.同一建筑物范圍內(nèi)主要持力層或其下臥層地層界面坡度大于10%,且可能影響到基礎(chǔ)設(shè)計或施工方案選擇時,應(yīng)加密勘探點間距查明地層界面起伏情況
D.控制性勘探點應(yīng)根據(jù)建筑物平面分布均勻布置,其數(shù)量不小于勘探點總數(shù)的1/3,高層建筑控制點數(shù)量不應(yīng)少于勘探點總數(shù)的1/2
A.5
B.6
C.7
D.8
最新試題
巖溶地基的處理措施一般可采用()、跨蓋、()和排導(dǎo)等方法。
巖體結(jié)構(gòu)面測量應(yīng)采用()測定其走向、傾角和傾向。當(dāng)傾角較緩或確定有困難時,可采用()或“V”字型法確定。
泥石流勘察應(yīng)以()為主,輔以()、鉆探等其他勘探手段。測繪范圍應(yīng)包括溝谷至分水嶺的全部面積及可能受泥石流影響的地段。
當(dāng)靜力觸探試驗貫入深度超過()m,或穿越厚層軟土后再貫入硬土層或密實砂層時,宜采用導(dǎo)向管或采取防孔斜措施;也可配置()量測觸探孔的偏斜角,校正土層界線的深度。
可行性研究階段勘察應(yīng)以收集資料、()為主,輔以少量的勘探、取樣和()工作。必要時可采用無人機(jī)傾斜攝影結(jié)合工程地質(zhì)測繪方法,查明擬建場地地形、地貌和地物分布現(xiàn)狀。
巖石在風(fēng)化營力作用下,其結(jié)構(gòu)、成分和性質(zhì)已產(chǎn)生不同程度變異的應(yīng)定名為()。已完全風(fēng)化成土而未經(jīng)搬運的,并具有母巖殘余結(jié)構(gòu)的應(yīng)定名為()。
采用樁基礎(chǔ),勘探深度應(yīng)大于預(yù)計樁端以下3倍~5倍設(shè)計樁徑,且不小于()m;對樁身設(shè)計直徑大于()mm,不應(yīng)小于5m。
基坑開挖和影響深度范圍內(nèi)遇軟弱土層或軟弱土夾層時,宜進(jìn)行()試驗或()試驗。
相鄰勘探點揭示的潛在基礎(chǔ)持力層層面變化大于()%時、影響基礎(chǔ)設(shè)計和施工方案的選擇時,應(yīng)根據(jù)墩臺布置加密勘探點()。
當(dāng)需查明地質(zhì)構(gòu)造、地質(zhì)界面、地下不明地質(zhì)體的分布形態(tài)、范圍和埋藏深度時,應(yīng)根據(jù)()采用有效的工程物探方法。對()應(yīng)加密勘探點并采用鉆探、槽探或井探進(jìn)行驗證。