A.45o
B.60o
C.70o
D.75o
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A.縱波斜入射，當(dāng)入射角大于60o時(shí)縱波聲壓反射率高
B.縱波斜入射，當(dāng)入射角大于45o時(shí)縱波聲壓反射率高
C.橫波斜入射，當(dāng)入射角等于30o時(shí)橫波聲壓反射率高
D.橫波斜入射，當(dāng)入射角等于35o時(shí)橫波聲壓反射率高
A.大于
B.小于
C.等于
D.無(wú)法確定
A.反射
B.波型轉(zhuǎn)換
C.折射
D.反射和折射
A.聲壓往復(fù)透過(guò)率與界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗無(wú)關(guān)
B.界面兩側(cè)聲阻抗相差越大，聲壓往復(fù)透過(guò)率越高
C.聲壓往復(fù)透過(guò)率與聲強(qiáng)單方向的透過(guò)率的平方在數(shù)值上相等
D.聲壓往復(fù)透過(guò)率高，檢測(cè)靈敏度高
A.聲波從不同方向垂直入射到同一界面時(shí)，聲壓反射率相等
B.聲波從不同方向垂直入射到同一界面時(shí)，聲強(qiáng)反射率和聲強(qiáng)透過(guò)率數(shù)值變化大
C.界面兩側(cè)的聲阻抗相接近時(shí)，聲壓反射率小，聲能大部分透射至第二介質(zhì)
D.當(dāng)入射波介質(zhì)的聲阻抗遠(yuǎn)大于透射波介質(zhì)聲阻抗時(shí)，聲壓幾乎全反射
最新試題
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
儀器水平線性影響（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
直接接觸法是指探頭與工件之間（）。
超聲檢測(cè)對(duì)缺陷定位時(shí)，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。