A.直探頭檢測波高為φ2mm+5dB 評為II 級，
B.斜探頭檢測波高為φ1×6-6dB 評為II 級，
C.直探頭檢測波高為φ2mm+8dB 評為I 級，
D.斜探頭檢測波高為φ1×6-2dB 評為II 級，
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A.采用晶片直徑為φ20mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
B.采用晶片直徑為φ14mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑應(yīng)在76mm~126mm 之間。
C.采用晶片直徑為φ18mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑可為100mm。
D.采用晶片直徑為φ22mm 的探頭對環(huán)縫檢測，對比試塊的曲率半徑可為84mm。
A.掃查靈敏度為φ3-6dB
B.用有機(jī)玻璃作斜楔時(shí)，斜探頭的入射角大致在28° ~57° 之間
C.掃查靈敏度為φ2-6dB
D.對厚度小于或等于600mm 鍛件檢測時(shí)，不考慮材質(zhì)衰減
A.若缺陷回波幅度大于或等于相應(yīng)對比試塊人工缺陷回波基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
B.若缺陷回波幅度等于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
C.對縱向缺陷和橫向缺陷檢測時(shí)，掃查靈敏度均應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度提高6dB
D.若缺陷回波幅度高于基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線，則判為不合格
A.對厚度大于50mm 至150mm 的鋼板，將探頭置于試塊表面，使波束對準(zhǔn)試塊表面上的槽寬邊，找出第一個1/2跨距最大的波幅，調(diào)整到80%滿刻度波高，然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，使探頭在3/2跨距和全跨距位置探測試塊表面槽的最大反射波，連接此三個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
B.對厚度小于或等于50mm 的鋼板，將探頭置于試塊表面，使波束對準(zhǔn)試塊表面的槽寬邊，找出第一個全跨距最大波幅，調(diào)整到80%滿刻度波高，然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，使探頭在第二個全跨距探測試塊表面槽的最大反射波，連接此二個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
C.對厚度大于150mm 至250mm 的鋼板，將探頭置于試塊表面，使波束對準(zhǔn)試塊表面上的槽寬邊，找出第一個1/2跨距最大的波幅，調(diào)整到80%滿刻度波高，然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，使探頭在全跨距位置探測試塊表面槽的最大反射波，連接此二個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
D.對厚度小于或等于50mm 的鋼板，將探頭置于試塊表面，使波束對準(zhǔn)試塊背面的槽寬邊，找出第一個全跨距最大波幅，調(diào)整到80%滿刻度波高，然后不改變儀器調(diào)整狀態(tài)，使探頭在第二個全跨距探測試塊表面槽的最大反射波，連接此二個槽回波高的連線即為基準(zhǔn)靈敏度距離-波幅曲線。
A.根據(jù)在用壓力容器定期檢驗(yàn)規(guī)則、鍋爐定期檢驗(yàn)規(guī)則的技術(shù)規(guī)程的要求對缺陷的超聲檢測結(jié)果進(jìn)行記錄
B.只記錄大于允許缺陷臨界尺寸的缺陷
C.應(yīng)記錄缺陷位置、類型、取向、波幅、指示長度和自身高度以及缺陷分布圖
D.缺陷記錄應(yīng)由操作人員和責(zé)任人員簽字
最新試題
用有機(jī)玻璃制作水浸聚焦探頭進(jìn)行水浸探傷時(shí)，當(dāng)溫度升高時(shí)，焦距變大。
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，關(guān)于掃查靈敏度的敘述正確的是（）。
對奧氏體不銹鋼對接焊縫根部未熔合采用K1斜探頭檢測最合適。
小徑管對接焊縫探傷，下列哪種敘述可判斷為缺陷（）。
當(dāng)缺陷聲程X=N/2（N 為探頭晶片近場長度）時(shí)，由于此時(shí)主聲束處聲壓為零，故無法檢測。
用水浸法縱波檢測80mm 厚鋼試件，水層厚度應(yīng)為（）。
對T 型焊縫進(jìn)行超聲探傷，在翼板外側(cè)探傷時(shí)常用K1探頭，在腹板上探測時(shí)，可根據(jù)腹板厚度選用K值。
如何利用壓電材料來選擇晶片？
根據(jù)JB/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，承壓設(shè)備用無縫鋼管超聲檢測適用于（）。
機(jī)械品質(zhì)因子Qm越小，則脈沖寬度越小，分辨率就越高。