A.結(jié)構(gòu)強(qiáng)度
B.物理強(qiáng)度
C.應(yīng)力強(qiáng)度
D.隨機(jī)強(qiáng)度
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A.方差
B.數(shù)學(xué)期望
C.變量
D.標(biāo)準(zhǔn)差
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A.可靠壽命
B.中位壽命
C.特征壽命
D.產(chǎn)品壽命
A.可靠壽命
B.中位壽命
C.特征壽命
D.產(chǎn)品壽命
A.2
B.3
C.4
D.5
最新試題
在故障樹分析中,設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α,在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n,該底事件重要程度為C,那么下面說法正確的是()
簡要說明老練與篩選的目的以及二者的異同。
四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng),每個(gè)單元的MTBF分別為:300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí),試按比例將MTBF分至各單元,并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。
下列關(guān)于可維護(hù)性的陳述當(dāng)中哪一個(gè)是真實(shí)的()
采用儲備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性,但會(huì)降低其基本可靠性
故障樹分析是用一系列()和轉(zhuǎn)移符號描述系統(tǒng)中各種事件之間的因果關(guān)系中各種事件之間的因果關(guān)系的。
設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h,累計(jì)發(fā)生4次故障,則該產(chǎn)品的MTBF約為()
下列失效率函數(shù)曲線中,屬于早期失效型的曲線為()
產(chǎn)品可靠性與()無關(guān)。
可靠性試驗(yàn)中,環(huán)境應(yīng)力篩選最有效辦法是:()和()