A.1
B.2
C.3
D.4
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A.上升
B.下降
C.飄移
D.彎轉(zhuǎn)
A.降低
B.升高
C.降額
D.升額
A.可靠性
B.實(shí)效性
C.失效性
D.準(zhǔn)確性
A.可靠率值
B.邏輯率值
C.系統(tǒng)率值
D.失效率值
A.盡可能大
B.盡可能小
C.盡可能不變
D.幾乎不變
最新試題
為了驗(yàn)證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致,用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫()試驗(yàn)。
以下對(duì)可靠性實(shí)驗(yàn)敘述錯(cuò)誤的是()
試論述可靠度含義,請(qǐng)解釋一下基本可靠性和任務(wù)可靠性。
用上行法和下行法求最小割集時(shí),可能得到不同的最小割集。
下列失效率函數(shù)曲線中,屬于早期失效型的曲線為()
已知一元件壽命服從指數(shù)分布,平均壽命θ為100h,則其工作1小時(shí)可靠性是其工作100小時(shí)可靠性的多少倍()
在故障樹分析中,設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α,在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n,該底事件重要程度為C,那么下面說法正確的是()
圖(a)、(b)兩部分是等價(jià)的嗎?當(dāng)表決器可靠度為1,組成單元的故障率均為常值λ時(shí),請(qǐng)推導(dǎo)出三中取二系統(tǒng)的可靠度和MTBCF表達(dá)式。
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的()
對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗(yàn)時(shí),母體的合格率不達(dá)標(biāo),子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)