A.單阻耦合
B.共阻耦合
C.電感耦合
D.電容耦合
E.阻抗耦合
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A.采用熱導(dǎo)率大的材料
B.加大導(dǎo)線橫截面
C.盡量減小接觸面接觸熱阻
D.使熱傳到路徑最短
E.加散熱片
A.降額使用
B.低壓使用
C.高負(fù)載使用
D.隔熱使用
E.散熱設(shè)計(jì)
A.熱設(shè)計(jì)應(yīng)與電器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)同時(shí)進(jìn)行
B.應(yīng)將溫度控制在規(guī)定范圍內(nèi)
C.不能過(guò)長(zhǎng)時(shí)間進(jìn)行系統(tǒng)設(shè)計(jì)
D.設(shè)備熱設(shè)計(jì)控制溫度穩(wěn)定安裝
E.熱設(shè)計(jì)應(yīng)考慮產(chǎn)品的經(jīng)濟(jì)性指標(biāo)
最新試題
下圖為典型產(chǎn)品的故障率曲線，試說(shuō)明各階段的產(chǎn)品失效原因。
在故障樹(shù)分析中，設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α，在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n，該底事件重要程度為C，那么下面說(shuō)法正確的是（）
下列失效率函數(shù)曲線中，屬于早期失效型的曲線為（）
什么是可靠性，可靠性的最主要的指標(biāo)有哪些？
用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。
應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的（）
在可靠性試驗(yàn)中，老煉的目的在于消除產(chǎn)品參數(shù)漂移，而篩選的目的在于剔除早期失效產(chǎn)品。
以下對(duì)可靠性實(shí)驗(yàn)敘述錯(cuò)誤的是（）
抽樣的兩類風(fēng)險(xiǎn)分別是什么？
可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）