橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷（）
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
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是橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式，試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
（）
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：2聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對‘0’，滿刻度200），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況（）
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。如果按1：1聲程調(diào)整的話（入射點(diǎn)對‘0’，滿刻度100），熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況（）
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí)，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時(shí)基線，探頭聲束對準(zhǔn)R25圓弧面時(shí)的示意圖。此時(shí)，各反射波之間的間距應(yīng)是多少（）
A.25
B.50
C.75
D.100
最新試題
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定，而缺陷的大小可由缺陷的面積或（）來表征。
在對缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
（）可以對管路、管道進(jìn)行長距離檢測。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
單探頭法容易檢出（）。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí)，在底波之后出現(xiàn)一系列的波，這種波是（）。
（）是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力，一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
利用底波計(jì)算法校準(zhǔn)靈敏度時(shí)，下面敘述中（）是錯(cuò)誤的。
超聲檢測儀盲區(qū)是指（）。