單項選擇題雙晶片直探頭適用于檢查()
A.餅類鍛件
B.環(huán)類鍛件
C.中厚板
D.以上都可以
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1.單項選擇題下列哪種方法最適合探測厚板()
A.接觸法垂直入射
B.水浸法垂直入射
C.接觸法斜入射
D.水浸法斜入射
2.單項選擇題探測環(huán)類鍛件時,常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度()
A.平底孔
B.V型或矩形槽
C.橫孔
D.A和B
3.單項選擇題環(huán)類鍛件的主要檢測方式是()
A.端面垂直入射檢驗
B.端面斜入射檢驗
C.圓周面垂直入射檢驗和圓周面斜入射檢驗
D.以上都是
4.單項選擇題根據(jù)餅類鍛件的變形工藝特點,通常具有下列哪種聲傳播特性()
A.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域大
B.端面區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
C.圓周區(qū)域聲衰減比中心區(qū)域小
D.不能確定
5.單項選擇題探測餅類鍛件時,常采用下列哪種人工反射體來調(diào)整靈敏度()
A.平底孔
B.橫通孔
C.矩形槽
D.V型槽
最新試題
利用底波計算法進行靈敏度校準時,適用的工件厚度為()。
題型:單項選擇題
當縱波直探頭置于細長工件上時,在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
題型:單項選擇題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點,兩端點之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
題型:單項選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷,并對缺陷進行()。
題型:單項選擇題
超聲波儀時基線的水平刻度與實際聲程成正比的程度,即()。
題型:單項選擇題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
題型:單項選擇題
單探頭法容易檢出()。
題型:單項選擇題
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
題型:單項選擇題
利用底波計算法校準靈敏度時,下面敘述中()是錯誤的。
題型:單項選擇題
()可以對管路、管道進行長距離檢測。
題型:單項選擇題