A.缺陷回波高度與底面回波高度比較
B.缺陷回波高度與參考反射體回波高度比較
C.以缺陷回波高度與基準(zhǔn)波高的分貝差計(jì)算當(dāng)量
D.缺陷指示長(zhǎng)度測(cè)定
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A.液力管件
B.傳動(dòng)軸
C.發(fā)動(dòng)機(jī)盤件
D.蒙皮用鋁板
A.提高增益（增加靈敏度）并從另一面掃查，以提高信噪比
B.提高頻率并采用大直徑探頭，以減小聲束擴(kuò)散角來降低部分雜波
C.在深度方向上分區(qū)域調(diào)整靈敏度和評(píng)定，以避開近距離雜波的干擾
D.改用透射法雙探頭掃查，以減少聲能損失
A.IN718
B.Ti-6Al-4V
C.4340
D.2024
A.接近于前表面
B.在底面附近
C.在板的中部
D.以上都有可能
A.單晶片直射縱波
B.雙晶片斜射縱波
C.斜入射橫波
D.雙探頭透射法
最新試題
移動(dòng)探頭找到缺陷最大回波，沿缺陷方向左右移動(dòng)探頭，缺陷回波高度降低一半時(shí)，探頭中心軸線所對(duì)應(yīng)的位置即為指示長(zhǎng)度的端點(diǎn)，兩端點(diǎn)之間的直線長(zhǎng)度即為缺陷指示長(zhǎng)度。這種測(cè)長(zhǎng)方法稱為（）。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
測(cè)長(zhǎng)法是根據(jù)測(cè)長(zhǎng)缺陷回波高度變化與探頭移動(dòng)位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測(cè)得的缺陷長(zhǎng)度稱為缺陷的（）。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng)，超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為（）。
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小，操作方便，適用于（）的工件。
用橫波斜探頭檢測(cè)，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
（）是影響缺陷定量的因素。
超聲檢測(cè)儀盲區(qū)是指（）。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺(tái)階、螺紋等輪廓時(shí)將引起反射，這種波是（）。